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退火時(shí)間與金屬內(nèi)部晶粒的關(guān)系
時(shí)間: 2019-01-21 14:49:42
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退火溫度在同樣的時(shí)間內(nèi), 隨著金屬在退火爐內(nèi)退火時(shí)間的延長晶粒尺寸逐漸變大。退火時(shí)間延長到150 min時(shí), 退火試樣的晶粒不均勻程度比90 min 試樣高, 在較短時(shí)間
退火溫度在同樣的時(shí)間內(nèi), 隨著金屬在退火爐內(nèi)退火時(shí)間的延長晶粒尺寸逐漸變大。退火時(shí)間延長到150 min時(shí), 退火試樣的晶粒不均勻程度比90 min 試樣高, 在較短時(shí)間內(nèi)晶粒大小分布不均。退火時(shí)間進(jìn)一步延長晶粒繼續(xù)粗化, 但長大趨勢逐漸平緩, 晶粒尺寸大小逐漸分布均勻。因此, 在一定溫度下晶粒尺寸有一定的極限值。退火試樣的晶粒長大到極限后, 不再長大。但如果繼續(xù)提高溫度, 原子的擴(kuò)散能力增加, 這樣就打破了晶界遷移與阻力的平衡關(guān)系, 使晶界遷移更容易。因此退火溫度為1050℃時(shí), 試樣的晶粒尺寸明顯比1000℃時(shí)的大。
退火溫度對試樣晶粒長大影響較大。隨著退火溫度的升高, 試樣的平均晶粒尺寸增大, 試樣平均晶粒等級相應(yīng)降低。退火溫度越高則晶粒長大越快, 1000℃時(shí)退火時(shí)間為60-210 min, 試樣的平均晶粒等級為1.5, 平均晶粒尺寸為約187.428 μm, 正好落入最佳鐵損尺寸范圍內(nèi)(100-200 μm)。1050℃試樣的平均晶粒等級達(dá)到0.5級, 過于粗大。
再結(jié)晶是晶粒不斷形核和晶核不斷長大, 直到全部變形晶粒都消失的過程。退火溫度升高則晶核長大的速率增加。從試樣的斷面組織可以看出, 晶粒隨溫度的升高而粗化, 說明退火時(shí)都已發(fā)展到晶粒長大階段。在相同的保溫時(shí)間內(nèi), 溫度越高晶粒長大的速率也越大, 因而最終得到粗大的晶粒。
退火溫度對試樣晶粒長大影響較大。隨著退火溫度的升高, 試樣的平均晶粒尺寸增大, 試樣平均晶粒等級相應(yīng)降低。退火溫度越高則晶粒長大越快, 1000℃時(shí)退火時(shí)間為60-210 min, 試樣的平均晶粒等級為1.5, 平均晶粒尺寸為約187.428 μm, 正好落入最佳鐵損尺寸范圍內(nèi)(100-200 μm)。1050℃試樣的平均晶粒等級達(dá)到0.5級, 過于粗大。
再結(jié)晶是晶粒不斷形核和晶核不斷長大, 直到全部變形晶粒都消失的過程。退火溫度升高則晶核長大的速率增加。從試樣的斷面組織可以看出, 晶粒隨溫度的升高而粗化, 說明退火時(shí)都已發(fā)展到晶粒長大階段。在相同的保溫時(shí)間內(nèi), 溫度越高晶粒長大的速率也越大, 因而最終得到粗大的晶粒。
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